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  • 9491. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2006 A.Trautmann, R.Denfeld, F.Heuck, P.Ruther, O.Paul, Novel Silicon Microneedle Stamps for Allergy Skin Prick Testing, Proc. MEMS’06, Istanbul, (2006), 434-437.
  • 9492. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2005 M.Schuster, N.Klein, P.Ruther, A.Trautmann, O.Paul, P.Kuzel, F.Kadlec, An interconnected 2D-TM EBG structure for millimetre and sub-millimetre waves, IEEE Journal on Selected Areas in Communication, Vol.23, No.7, (2005), 1378-1384. P.Ruther, J.Bartholomeyczik, A.Buhmann, A. Trautmann, K.Steffen, O.Paul,  Microelectromechanica
  • 9493. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2004 S.Kamiya, J.Kuypers, A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Annealing Temperature Dependent Strength of Polysilicon Measured Using a Novel Tensile Test Structure, Proc. MEMS’04, Maastricht, (2004), 185-188. M.Schuster, N.Klein, P.Ruther, A.Trautmann, O.Paul, P.Kuzel, F.Kadlec, An interconnected 2D-TM EBG structure for millimetre and sub-millim
  • 9494. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2003 A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Microneedle Arrays Fabricated Using Suspended Etch Mask Technology Combined with Fluidic Through Wafer Vias, Proc. MEMS’03, Kyoto, (2003), 682-685. A.Trautmann, R.Haug, P.Ruther, O.Paul, Robustness of Silicon Microneedle Arrays Penetrating Bulk Material, Proc. Eurosensors XVII, (2003), 414-417.
  • 9495. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2002 A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Novel Microneedle Arrays Using Suspended Etch Masks, Proc. Eurosensors XVI, Praque,(2002), 433-436.
  • 9496. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    Patente/Patentanmeldungen P1: MICROMECHANICAL METHOD AND CORRESPONDING ASSEMBLY FOR BONDING SEMICONDUCTOR SUBSTRATES AND CORRESPONDINGLY BONDED SEMICONDUCTOR CHIP P2: CONTACT ARRANGEMENT FOR ESTABLISHING A SPACED, ELECTRICALLY CONDUCTING CONNECTION BETWEEN MICROSTRUCTURED COMPONENTS P3: COMPOSITE OF AT LEAST TWO SEMICONDUCTOR SUBSTRATES
  • 9497. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 16.08.2018
    2013 C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Characterization of Diverse Gate Oxides on 4H-SiC 3D Trench-MOS Structures, Materials Science Forum. 740–742 (2013) 691–694. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.691. 2011 L. Bohne, A. Trautmann, T. Pirk, W. Jaegermann, Strukturierung von Siliziumsubstraten für
  • 9498. Veröffentlichungen/Patente - Publikationen
    Datum: 18.05.2021
    Publikationen 2014 C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Influence of Diverse Post-Trench Processes on the Electrical Performance of 4H-SiC MOS Structures, Materials Science Forum. 778–780 (2014) 595–598. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.778-780.595. C.T. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A.J. Bauer, L. Frey, In
  • 9499. Versuch zu Oszilloskopen internetfähig gemacht
    Datum: 13.01.2020
    Versuch zu Oszilloskopen internetfähig gemacht Im Verlaufe eines Projekts zur Förderung der Qualität in der Lehre entwickelte Fr. Xianhong Gerst einen Versuch zu Oszilloskopen nach dem Industriestandard 4.0. Fr. Gerst erarbeitete diesen Laborversuch als Masteraufgabe zur intenetfähigen Messung und Simulation zeitlich veränderlicher Größen. Nach er
  • 9500. Versuch zu Oszilloskopen internetfähig gemacht - Versuch zu Oszilloskopen internetfähig gemacht
    Datum: 13.01.2020
    Versuch zu Oszilloskopen internetfähig gemacht Im Verlaufe eines Projekts zur Förderung der Qualität in der Lehre entwickelte Fr. Xianhong Gerst einen Versuch zu Oszilloskopen nach dem Industriestandard 4.0. Fr. Gerst erarbeitete diesen Laborversuch als Masteraufgabe zur intenetfähigen Messung und Simulation zeitlich veränderlicher Größen. Nach er
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