Veröffentlichungen ab 2013
Theis M., Hoffmann J. E., Saumer M.: Low coercivity NiFeMo thick films for wafer-level fabrication of magnetic microsensors, DTIP, 2016. Schmitt, M.-T.: Charakterisierung galvanisch hergestellter nanokristalliner Nickel-Eisen-Legierungen, Dissertation, Technische Universität Kaiserslautern, 2014. Brünnet, H.; Lyubenova,
Veröffentlichungen, Patente und veröffentlichte Anmeldungen
2021 - 2016
M.Y. Jahmani, M.E. Hammadeh, M.A. Al Smadi, M.K. Baller, Label-Free Evaluation of Chromatin Condensation in Human Normal Morphology Sperm Using Raman Spectroscopy, Reprod. Sci. (2021) 1–13. https://doi.org/10.1007/s43032-021-00494-6
M. Gries, A. Christmann, S. Schulte, M
Veröffentlichungen des QM
Zu den wichtigsten Veröffentlichungen zählen die Qualitätsberichte für die einzelnen Studiengänge sowie die Prüfberichte. In den jährlichen QM-Tagebüchern informieren wir über unsere Arbeit in dem jeweiligen Jahr, z.B. den abgeschlossenen und laufenden Akkreditierungsverfahren.
QM-Tagebuch Das QM-Tagebuch informiert über die Aktivitäten der Stabsstelle in den jeweiligen Jahren.
QM-Tagebuch 2024 QM-Tagebuch 2023 QM-Tagebuch 2022 QM-Tagebuch 2021 QM-Tagebuch 2020 QM-Tagebuch 2019 QM-Tagebuch 2018 QM-Tagebuch 2017 QM-Tagebuch 2016
Qualitätsberichte Der Qualitätsbericht wird abschließend in einem
Zu den wichtigsten Veröffentlichungen zählen die Qualitätsberichte für die einzelnen Studiengänge sowie die Prüfberichte. In den jährlichen QM-Tagebüchern informieren wir über unsere Arbeit in dem jeweiligen Jahr, z.B. den abgeschlossenen und laufenden Akkreditierungsverfahren.
2013
C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Characterization of Diverse Gate Oxides on 4H-SiC 3D Trench-MOS Structures, Materials Science Forum. 740–742 (2013) 691–694. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.691.
2011
L. Bohne, A. Trautmann, T. Pirk, W. Jaegermann, Strukturierung von Siliziumsubstraten für integrierte 3D-Dünnschichtbatterien, MikroSystemTechnik - KONGRESS (2011).
2007
S.Kamiya, J.Kuypers, A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Process Temperature Dependent Mechanical Properties of Polysilicon Measured Using a Novel Tensile Test Structure, IEEE Journal of Microelectromechanical Systems 16 Issue 2, (2007), 202 – 212. B. Levey, P. Gieschke, M. Dölle, S. Spinner, A. Trautmann, P. Ruther, O. Paul, CMOS-Integrat
