Charakterisierung von Werkstoffen und Strukturen mittels Rasterelektronenmikroskopie und EDX, EBSD sowie STEM Analytik
Im Rahmen des bewilligten Antrages wird ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-, EBSD- und STEM-Detektoren beschafft. Durch das kombinierte elektrostatisch-magnetisches Objektiv des Systems sind sehr hohe Vergrößeru
Cyberangriff: Aktuelle Meldungen und Hinweise
Hier finden Student*innen, Mitarbeiter*innen und Studieninteressierte aktuelle Informationen zum Cyberangriff.
Die Nachrichten sind chronologisch sortiert.
