Einsatz der Kerr-Mikroskopie zur Charakterisierung der Schädigungsentwicklung bei Stählen
Bei dem innerhalb des Projektes verwendeten Kerr-Mikroskops handelt es sich um ein Zwei-in-Eins-System. Somit ist in der Abb. 1 sowohl die Nahfeldmikroskopie mit den entsprechenden, nicht magnetischen Objektiven Epiplan Neofluar (20x0.5 Pol; 50x0.8 Pol; 10
Einsatz der Kerr-Mikroskopie zur Charakterisierung der Schädigungsentwicklung bei Stählen
Bei dem innerhalb des Projektes verwendeten Kerr-Mikroskops handelt es sich um ein Zwei-in-Eins-System. Somit ist in der Abb. 1 sowohl die Nahfeldmikroskopie mit den entsprechenden, nicht magnetischen Objektiven Epiplan Neofluar (20x0.5 Pol; 50x0.8 Pol; 100x1
Einsatz zerstörungsfreier Prüfverfahren in einer neuen Ein-Proben Prüfstrategie zur Abschätzung von Ermüdungsdaten
Ziel des vorliegenden Forschungsantrages ist es die Potentiale zerstörungsfreier Prüfverfahren, der Digitalisierung der Messtechnik und der Signalverarbeitung zu nutzen und mit einer neuartigen Ein-Proben Prüfstrategie zu kombinieren,
Entgegen der konventionellen Vorgehensweise sollen die Proben hierfür nicht mit Elektro- oder Permanentmagneten, sondern mittels eines angelegten konstanten/wechselnden Stroms bzw. Spannung magnetisiert werden, um ein probeneigenes mikrostrukturabhängiges Magnetfeld aufzubauen. Die hierbei gewonnenen Messsignale werden hinsichtlich ihrer Verläufe
Einsatz zerstörungsfreier Prüfverfahren in einer neuen Ein-Proben Prüfstrategie zur Abschätzung von Ermüdungsdaten
Ziel des vorliegenden Forschungsantrages ist es die Potentiale zerstörungsfreier Prüfverfahren, der Digitalisierung der Messtechnik und der Signalverarbeitung zu nutzen und mit einer neuartigen Ein-Proben Prüfstrategie zu kombinieren,
Entgegen der konventionellen Vorgehensweise sollen die Proben hierfür nicht mit Elektro- oder Permanentmagneten, sondern mittels eines angelegten konstanten/wechselnden Stroms bzw. Spannung magnetisiert werden, um ein probeneigenes mikrostrukturabhängiges Magnetfeld aufzubauen. Die hierbei gewonnenen Messsignale werden hinsichtlich ihrer Verläufe
